OLED CELL製程及設備介紹
今天我們來說一下OLED,希望對大家有幫助。
OLED CELL製程功能簡介
OLED CELL工藝流程簡介
CELL內各工藝製程及設備介紹
OLED CELL製程功能簡介
OLED CELL工藝流程簡介
OLED CELL工藝流程及設備介紹
【1/4切割目的】:利用刀輪,將5.5G 單板Glass(1300×1500mm)切割成1/4中片(650×750mm),以便適用於OLED蒸鍍封裝設備。
【切割原理】:利用高硬度的聚合金剛石刀輪,在玻璃表面形成沿著刀輪行進方向,垂直於玻璃表面的縱向裂紋,從而使玻璃能沿切割方向斷開。
以產生Median Crack為主,其它Crack越小越好。
【切割設備】
【切割工藝參數】:刀輪角度、切割壓力、切割速度、刀輪下壓量等;
【切割品質要求】:切割尺寸精度、切割深度、玻璃強度。
【磨邊目的】:利用高速旋轉的砂輪,將切割後Glass倒角,及邊緣磨邊,將不良(崩缺、裂紋、凸緣等)研磨掉,避免此類不良在後製程中導致破片。
【磨邊設備】:
【磨邊工藝參數】:研磨量、研磨角度;
【磨邊品質要求】:研磨精度
【清洗目的】:利用毛刷、2流體噴淋去離子水等沖洗乾淨Glass,並風刀風乾,避免Particle污染後製程。
【檢查目的】:利用CCD Camera掃視Glass基板邊緣,識別邊緣缺陷(崩缺、裂紋、凸緣等)並攔截不良Glass。
【Cell切割目的】:利用刀輪,將貼合後中片Glass切割成Cell。
【OLED Cell切割設備】:
【Cell Aging目的】:通過點亮OLED產品並施加一定電壓、電流、溫度,持續一定時間,使OLED有機發光材料有效融合,改善發光穩定性及顯示壽命。
【Cell Aging設備】
【一次VT目的】:不良檢測:利用測試治具點亮產品,在特定畫面下檢測篩選出顯示不良品(不良主要為Array/OLED蒸鍍階段的點類/線類/mura類不良);
Device監控:點亮產品,測量亮度、對比度、色坐標、CIE等光學指標是否正常。
【二次VT目的】:利用測試治具點亮產品,在特定畫面下檢測篩選出顯示不良品(不良主要為一次電測可能漏檢的前製程不良以及偏光片類顯示不良)。
【VT治具】:
【Gap sealing目的】:利用噴閥噴射UV膠至AMOLED邊緣(Pad區邊緣除外),使膠滲入基板與封裝玻璃之間的縫隙。並LED 線性UV側照固化,藉以增強產品的粘合強度與防水性。
【Gap sealing設備】:
【Gap sealing工藝參數】:點膠壓力、點膠循環時間、點膠速度、UV固化時間;
【Gap sealing品質要求】:噴塗精度、溢膠高度、UV膠氣泡等;
【Polishing clean目的】:利用研磨裝置、毛刷、2流體噴淋等手段洗凈
【偏光片貼附目的】:將偏光片剝離離型膜後貼附於AMOLED產品出光側玻璃表面,使偏光片對OLED顯示起到防眩光和消光作用。
【圓偏光片作用原理】:對OLED顯示起到防眩光和消光作用。
【偏光片貼附設備】:
【偏光片貼附工藝參數】:
1、貼附速度;2、貼附壓力;
3、貼附Gap;4、貼附角度。
【偏光片貼附品質要求】:
1、貼片精度;2、貼片氣泡;
3、偏貼Particle(異物);4、前端貼附氣泡線/印痕
【Auto Clave目的】:將貼片後產品放入密閉環境(通常是鍋爐狀腔體),利用高壓及加熱,持續一定時間,使偏光片和玻璃基板之間的微小氣泡消除,同時可以增加其粘附性。
※顯示進階史 CRT、LCD、OLED技術全解析
※ACF技術資料講解
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