一種多功能存儲器晶元測試系統的設計與實現
作者：王烈洋 黃小虎 占連樣 珠海歐比特控制工程股份有限公司
隨著電子技術的飛速發展， 存儲器的種類日益繁多，每一種存儲器都有其獨有的操作時序，為了提高存儲器晶元的測試效率，一種多功能存儲器晶元的測試系統應運而生。本文提出了一種多功能存儲器晶元的測試系統硬體設計與實現，對各種數據位寬的多種存儲器晶元（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）進行了詳細的結口電路設計（如何掛載到NIOSII的匯流排上），最終解決了不同數據位寬的多種存儲器的同平台測試解決方案，並詳細地設計了各結口的硬體實現方法。
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