業界首創AI演算法驅動的高精度半導體參數一體化測試系統

在科技迅猛發展、晶元量呈幾何倍數增長、摩爾定律已逐漸不再適用的今天，整個測試測量行業也在發生著巨大的變化，我們需要一個更加面向未來的智能測試方案，來打破傳統儀器固有的局限。

** 「軟體定義測試，演算法突破硬體限制」，基於NI的PXI模塊化硬體平台，應用人工智慧演算法，拓展硬體固有的測試能力，大幅提高測試精度和速度**，博達微科技可以說是現今利用人工智慧驅動半導體測試測量的領導者。博達微演算法團隊全部來自清華大學電子系，優化演算法出身，十年前就利用演算法處理集成電路工藝浮動模擬難題，積累了「行為預測」、「雜訊去除」等一系列技術演算法原型，從2015年開始團隊把演算法應用轉移至半導體測試領域。

今年年初博達微科技發布了基於機器學習的第一代半導體參數化測試產品FS系列，在精度和靈敏度上對NI硬體模塊做了兩個數量級的提升，一經推出就迅速獲得市場認可，南京大學青年千人計劃科學家王肖沐博士這樣評價：「博達微科技的FS系列半導體參數測量系統與之前使用的傳統測試儀器相比，測試速度要快很多，產品很好地滿足了測試對速度、集成化、易用性和靈活性的要求。」

基於一年多的市場探索，和技術上的持續投資，今天新一代的FS系列 FS-Pro正式面世，相對於前一代FS系列僅針對IV測試，FS-Pro集成了IV測試、CV測試、低頻雜訊(1/f noise)測試等常用低頻特性測量於一體，在單台儀器內完成所有測試需求，真正做到All-In-One！測試速度提升10倍，在低頻雜訊測試中將原本需要幾十秒的測試時間縮短至10秒以內。在產品發布前，FS-Pro已通過了中國電子技術標準化研究院的國家級認證。

「結合十幾年的半導體行業經驗，讓AI演算法指導硬體，使測量突破原有物理邊界成為可能。」 博達微科技CEO李嚴峰說到，「這是業界首次把IV，CV和雜訊測試集成到單台設備中，無需換線客戶即可完成幾乎全部低頻參數化表徵。博達微同時提供了一塊業界首創的AI測試加速卡FS-AIM?，按下加速鍵，客戶就會體會到前所未有的測試速度。基於NI提供的模塊化架構，用戶可以靈活擴展，從四通道到近百個通道。」 2018新年伊始，在產品正式發布前博達微就收到了FS-Pro的第一張訂單，產品樣機也在領先的半導體公司和科研機構進行不間斷試用和測試。「我們已經看到FS-Pro未來在半導體參數化測試，產線測試如WAT測試中發揮的巨大空間，我們會在』軟體定義測試，演算法突破硬體邊界』的方向上繼續投入，持續落地智能演算法到產品，讓用戶體會到巨大的性能提升。」

NI 亞太區銷售與市場部副總 Chandran Nair 表示：?我們對於博達微科技利用 NI 最新 SMU 開發出的智能參數測試方案 FS-Pro 印象深刻。 透過博達微科技與 NI 硬體所達到優異的精確性與測試速度相信非常適合應用於參數研究與量產測試上。NI未來在技術與市場方面將會一如既往的大力支持博達微，持續為半導體領域的客戶提供更快速、更穩定、更智能的參數化測試方案。?

關於FS Pro?系列：

1. 人工智慧演算法驅動的高精度IV, CV與1/f雜訊一體化測試系統

2. IV測試速度相比較傳統測試方案提升達10倍

3. 模塊化架構可輕鬆擴展支持生產測試

4. 內置測量控制軟體LabExpress? 強大測試分析功能

5. 寬量程範圍應用, 高達200V，3A(脈衝,標準1A)，0.1fA靈敏度

6. 業界唯一提供可選內置器件建模與模擬軟體

關於博達微科技：

北京博達微科技有限公司（PDA）成立於2012年， 公司致力於開發機器學習演算法驅動的半導體參數化測試解決方案、業界領先的器件建模和完整的設計驗證方案，以及相關一站式服務內容。客戶覆蓋全球領先的半導體公司、設計公司、大學和研究機構。公司總部設立在北京，並在上海、深圳、台灣新竹設有分支辦事處。

更多詳情，請登錄：http://www.platform-da.com/

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