雷尼紹推出新型SFP2表面光潔度測量探頭

坐標測量機（CMM）是一種通過用探針感應物體表面上的點來測量物體幾何形狀的設備。Renishaw是坐標測量機生產領域的領導者，並且最近宣布推出其SFP2，這是一款專為配合CMM的REVO 5軸測量系統而設計的表面光潔度測量探頭。新型SFP2探頭增加了REVO系統的表面光潔度測量能力，REVO系統在單個坐標測量機上提供觸摸觸發器、高速觸覺掃描和非接觸式視覺測量的多感測器功能。

結合CMM的表面光潔度測量和尺寸檢測相對於需要單獨處理的更傳統檢測方法來說具有幾個優點。SFP2的自動化表面光潔度檢測由5軸測量技術提供支持，可節省大量時間，減少零件處理量，並獲得更高的CMM投資回報。SFP2系統包括一個探頭和一系列模塊，並可與REVO提供的所有其他探頭選件自動互換。這意味著用戶可以靈活地選擇他們需要的工具來檢查同一個CMM平台上的各種功能。來自多個感測器的數據會自動參考一個公共數據。

表面處理系統由與REVO系統相同的I ++ DME兼容界面管理，雷尼紹的MODUS計量軟體提供全面的用戶功能。

其他優勢包括與標準CMM檢測程序完全集成的表面光潔度管理，這歸功於使用MRS-2機架和RCP TC-3埠自動更換SFP2探針和觸針支架。SFP2探頭利用REVO的無限定位和5軸移動功能，以及一個整體式C軸探頭和各種幾何形狀探頭，模塊和支架之間的關節連接提供了最難以觸及的特徵。

雷尼紹的5軸REVO測量系統是CMM的唯一掃描系統，它可同時控制三個機床和兩個頭軸的運動，同時收集工件數據。傳統上，表面測量是使用手持式感測器進行的，或者要求將零件移動到專用測量機器上。REVO系統使表面測量更容易，將其集成到CMM測量中，並允許用戶在掃描和表面光潔度測量之間切換。

憑藉其2D和3D觸覺探頭，可提高表面光潔度測量和非接觸式視覺探頭的範圍，REVO系統使得對CMMs的部件檢測更加快速和準確。

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