聚焦第十屆中國測試大會 CTC2018 首日盛況！CTC/ITC-Asia/IWCR 三會聯辦，精彩紛呈！

8 月14日-17日，由CCF主辦、中國計算機學會容錯計算專業委員會和哈爾濱工業大學共同承辦的第十屆全國測試會議（CTC 2018）在哈爾濱太陽島花園酒店正式召開。本次會議與國際會議 International Test Conference in Asia 2018 (ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018 (IWCR) 聯合舉辦。會議陣容強大，30多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等頂級專家以及企業代表攜手11場大會特邀報告，7個高端產業論壇，50多場論壇特邀報告，60多場學術論壇報告，參會人數超過500人，是本年度國內測試、容錯、可信度領域規模最大、規格最高、影響最廣的一次學術界盛會！

會議開幕式由容錯計算專委秘書長韓銀和主持，容錯計算專委主任李華偉致歡迎詞，中國計量測試學會秘書長馬愛文、IEEE TTTC Chair Chen-huan Chiang、ACM SigDA 主席 Sharon HU、 CTC2018 主席楊孝宗和李曉維致開幕詞，程序會議主席董劍介紹本次會議概況。上午的四個 Keynotes 和下午的多個論壇，精彩紛呈，下面我們來盤點 CTC2018 首日的亮點。

大咖雲集，匯聚一堂

本次大會的演講嘉賓匯聚了 30 多位來自世界各地的學術界和業界頂級專家以及全國專業人士，共同探討測試、容錯、可信度等領域的最新研究進展和發展趨勢，一起推動集成電路設計，助力宏偉的「中國芯」事業。

主題報告，切中關鍵

上午開幕式之後，四位特邀講者分別做了精彩的學術報告。演講主題涵蓋人工智慧演算法的硬體加速、集成電路設計安全、關鍵軟體設計與錯誤定位、無人電動汽車等熱門話題，切中當前國家布局集成電路領域的核心問題和關鍵技術。

美國聖母大學的 X. Sharon Hu 教授做了題為「A Cross-Layer Perspective for Energy Efficient Processing—from Beyond-CMOS Devices to Deep Learning」的主旨報告。胡教授從跨層設計的角度，介紹了採用新型器件在非馮諾依曼體系結構的應用。尤其通過探究新型器件獨有的行為特徵，輔以新電路，新結構來提升功耗和性能，最終透過對應用程序的評測可以體現跨層設計的綜合收益。

Synopsys 公司亞美尼亞區總裁Yervant Zorian 博士做了題為「Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security」的主旨報告。自動駕駛技術正在飛速發展，其中最重要的是保證駕

駛安全。Yervant 提到，「人類會犯錯，機器也會犯錯，但我們要保證機器比人犯更少的錯」， Synopsys 公司提供了自動駕駛領域一站式解決方案，包括晶元 IP，EDA 工具和系統設計，以及晶元和嵌入式系統級測試，支持離線測試和在線測試。測試在自動駕駛是安全保證中最重要的一環，我國在該領域還期待更長足的發展和創新。

美國德州大學達拉斯分校的 W. Eric Wong 教授做了題為「Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security」的主旨報告。針對當前複雜軟體系統的多缺陷問題，W. Eric Wong 教授在演講中介紹了基於類聚方法的缺陷定位技術。該項技術通過解決失敗測試用例距離定義、類聚集合數量確定和類聚演算法選擇這三方面問題，極大地提高軟體缺陷定位的準確性和效率。軟體系統安全是網路空間安全戰略發展中尤為重要的方面，該報告從多個維度指出了當前軟體系統安全加固的關鍵環節。

韓國科學與技術高等研究院 KAIST 的 Naehyuck Chang 教授做了題為「Design Automation of Low-power Battery Electric Vehicles」的主旨報告。能效問題一直是電動汽車設計中最富挑戰的議題之一，Naehyuck Chang 教授在報告中介紹了一個他們開發的瞬時功耗模型，該模型充分考慮了電動汽車重量、速度、加速度、道路斜率等綜合因素以保證其高可信度。報告中還介紹了一種在設計階段的快速綜合方法，可大幅提升電動汽車動力系統的能效。

論壇討論，精彩紛呈

除了重磅的主題演講外，下午的四個前沿技術專業論壇和 ICCAD 論文預講大會同樣精彩。針對集成電路、軟體、汽車電子系統等可靠可信領域關鍵問題和最新研究進展，論壇邀請了 50 多名學術和產業專家到會報告。

（1）全國硬體安全論壇 （執行主席：張吉良）介紹利用與針對硬體漏洞的攻擊方法及防護措施，探討從硬體到系統安全的產業需求與解決方案。

（2）安全關鍵軟體測試技術論壇 （執行主席：黃松）分析軍用及安全關鍵軟體測試領域存在的技術問題，探討工程實踐的解決方案以及值得研究的有價值的學術問題，在學術界和企業界之間搭建一個高水平的交流平台。

（3）ICCAD 論文預講 （執行主席：蔣力、卓成）

（4）開源硬體和智能晶元論壇 （執行主席：羅國傑）探討開放式的設計重用和社會分工、解決設計複雜性和開發效率等問題，有利於技術創新快速成長為行業獨角獸，形成人才-技術-產品-市場的良性循環。

（5）晶元設計與 EDA 領域獲獎論文和競賽論壇 （執行主席：喻文健）邀請今年來設計自動化與測試領域的傑出中國學者蒞臨現場，展示其獲獎成果、講授獲獎背後的故事。

次日將有更多前沿技術論壇，歡迎繼續關註：

（1）安全關鍵軟體測試技術論壇 （執行主席：黃松）

（2）存儲可靠性技術論壇 （執行主席：石亮）

（3）從晶元到系統的測試挑戰與機遇 （執行主席：向東）

首枚大獎，神秘揭曉

中國計算機學會CCF 集成電路Early Career Award 針對工作不超過6 年的青年學者設立， 為從事集成電路方向的青年學者早期職業生涯提供支持。這是中國計算機學會體系內唯一的一個集成電路專業獎項，今年啟動第一屆評選。

在開幕式的最後一個重磅環節，評獎委員會主席汪玉教授宣布首屆 CCF 集成電路 Early Career Award 授予福州大學的陳建利博士，以表彰陳建利博士在超大規模集成電路電子設計自動化領域所做的貢獻。

陳建利博士一直專註於超大規模集成電路布局問題的研究。通過 10 年來不斷的累積以及版本改進，陳建利博士設計可高效處理元件規模達到千萬級的布局工具，成果斐然。2017 年，陳建利博士的第一作者論文獲得EDA 領域旗艦會議第54 屆電子設計自動化會議DAC2017 最佳論文獎，該獎項為 DAC 會議有史以來中國大陸高校首次以第一單位獲獎。

2017 年 11 月，陳建利博士及其團隊以巨大優勢獲得第 36 屆國際集成電路計算機輔助設計會議 ICCAD 所舉行的學術競賽（歷時 9 個月）全球第一名，為該賽事有史以來中國大陸首次獲得冠軍。此外，2018 年陳建利博士的五篇論文被第 37 屆 ICCAD 錄用，其中一篇論文獲得布局/版圖規劃領域最佳論文獎。

台灣大學電機資訊學院院長張耀文教授評價陳建利博士為 EDA 領域國際上耀眼的青年學者，他的研究成果對集成電路及相關領域的發展將產生深刻的影響。陳建利博士的獲獎正是對集成電路設計領域踏實耕耘、勇於創新的研究者們莫大的肯定和激勵！相信未來會有更多青年不忘初心、牢記使命，積極投身於我國集成電路領域的發展偉業。

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