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J-Plat Pat檢索系統界面操作

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由於語言的原因,亞洲國家的專利在世界知識產權圈裡相對難以閱讀,也相對難以檢索。好在,亞洲國家的官方網站一般會提供英文版的檢索界面。本期筆記重點介紹日本特許廳提供的J-Plat Pat

J-Plat Pat 簡介

進入日本特許廳的官方英文版界面(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/web/all/top/BTmTopEnglishPage),點擊Quick Links中的【J-Plat Pat】,來到J-Plat Pat首頁。

J-Plat Pat是日本專利信息平台(Japan Platform for Patent Information)的簡稱,提供了特許(即為發明)和實用新型(Patent & Utility Model)、外觀設計(Design)、商標(Trademark)、審判和上訴(Trial & Appeal)四種類型的檢索。

特許和實用新型的檢索

(Patent & Utility Model)

J-Plat Pat中的特許和實用新型檢索支持號碼檢索、分類號檢索和文本檢索。具有四個檢索入口:

特許和實用新型號碼檢索(Patent & Utility Model Number Search)

特許和實用新型檢索(Patent & Utility Model Search)

PAJ(Patent Abstracts of Japan)

專利分類號指南(Patent Map Guidance, PMGS)

1. 特許和實用新型號碼檢索Patent & Utility Model NumberSearch

這個入口能夠使用特許和實用新型的申請號、公開/告號等號碼進行檢索。小夥伴們可以按照空白處的灰色號碼示例來輸入。

2. 特許和實用新型檢索Patent & Utility Model Search

在這個入口中,既提供組合欄位(Field Combination)形式的檢索,也提供命令行(Command Line)形式的檢索。

在組合欄位形式的檢索中,可以同時限定文獻類別、FI/F-Term主題碼、公開日期、關鍵詞等

在命令行形式的檢索中,也可以同時限定文獻類別、FI/F-Term主題碼、公開日期。但是,要以命令行的方式實現關鍵詞的檢索

比如:[:20120101/AD]*[クラウド/AB]*[システム/AB]-[トナー/AB]*[アプリ/AB],表示檢索申請日在2012年1月1日以前、摘要中含有「雲」和「系統」但不含有「調色」也不含有「應用程序」的文獻。

3. PAJPatent Abstracts of Japan

PAJ意為日本專利英文文摘資料庫。這個資料庫的頁面有摘要、發明名稱、申請人、公開/告日、IPC分類號等檢索欄位,要用英文進行檢索哦。

4. 專利分類號指南Patent Map Guidance, PMGS

PMGS實際上是一種專利分類號查詢與分類號互查的工具,支持按分類號查詢(Inquiry)、按分類號釋義查詢(Search by Keyword)以及IPC-FI分類號索引查詢(IPC-FI Concordance Search)。

分類號查詢(Inquiry)功能可以查詢FI/F-Term的分類號列表。

分類號釋義查詢(Search by Keyword)可以根據FI/F-Term分類號的釋義查詢分類號。

IPC-FI分類號索引查詢(IPC-FI Concordance Search)可以通過IPC分類號查詢FI分類號。

外觀設計的檢索

(Design)

J-Plat Pat中的外觀設計檢索支持號碼檢索(Design Number Search)和分類號檢索(Design Classification Search)。

1. 號碼檢索Design Number Search

在外觀設計的號碼檢索中,可以輸入設計申請號碼、設計公報號碼等號碼進行檢索。

2. 分類號檢索Design Classification Search

分類號檢索支持檢索洛迦諾分類號、日本外觀設計分類/D-term分類號、登記日(registration date)、申請遞交日(filing date)等的檢索。

3. 日本外觀設計分類查詢

外觀設計的檢索入口中,還提供日本外觀設計分類查詢的入口。支持下載。

J-PlatPat的前身是日本工業知識產權數字圖書館(Industrial Property Digital Library,IPDL),於2015年3月25日改版上線使用,收錄了1885年以來的特許(發明)、實用新型和外觀設計的專利信息。日本在科技方面非常發達,其專利具有重大價值,希望小夥伴們都能掌握日本專利的基本檢索方法!

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