如同光線彎折，新光學技術可看到拐角物體

對拐角另一側的隱蔽物體的探測可能很快就會成為現實。

Aristide Dogariu是中佛羅里達大學(University of Central Florida)的光學與光子學教授，他與同事們在本月的《自然通訊》(Nature Communications)期刊上發表了一篇論文，描述了在無法直接看到物體的情況下，如何被動地探測到該物體。

雖然有些複雜，但該團隊開發的這種探測技術可被應用於諸多領域，包括防禦、監視、搜索、救援及醫學等。

試想一下如何才能看到拐角那邊的物體。使用平面光滑的鏡子可以做到這一點，但如果來自物體的光線只能通過牆體反射，其反光作用就如同一面完全破碎的鏡子。不過，即使光線看起來是完全分散的，但它的一些初始特性並不會全部消失。Dogariu的團隊能夠測量到散射光中存在的微妙的相似性，消除這面破碎鏡子的影響，從而看到拐角那邊存在的東西。

「當光被類似牆體的散光介質反射後，其基礎特性不會被完全破壞，這一事實可用於許多方面。」Dogariu表示：「問題是，通過這個像鏡子一樣的平面，你究竟還能恢復多少信息。」

當拍攝數字照片時，物體上的光的空間分布逐點、逐像素地映射到相機的平面上。然而，在從物體到相機的傳播中，光的特性會受到光反射的影響。當它從鏡面反射時，可以產生清晰的圖像。但比如當它被破碎的鏡子反射時，光的方向被改變，因此只能看到圖像的扭曲版本。

Dogariu的團隊找到了一種方法來描述兩個點之間的相似性度量(稱為光的空間相干性)如何從散光牆體反射後轉移。通過了解光線如何變換，研究人員可以確定光線的來源。Dogariu將他們的研究結果描述為光傳播的一個方面，而這在以前只是被忽視了。通過消除散光牆體的影響，該團隊不再需要控制照亮目標物體的光。

這種對拐角另一側的物體進行的探測尚屬首次。該技術無法恢復完整的圖像，但卻能搜集到足夠的信息以完成監視任務。

迄今為止，要探測拐角另一側的物體，只能通過朝物體發射光並修改其某些屬性，例如通過發送光脈衝，光線從散光牆體反射到物體上，再回到散光牆體上，然後反射到探測器上。光返回檢測器所花費的時間被用來對物體的位置進行三角測量。這種方法的問題在於，發射光會暴露探測意圖，因而在隱蔽的情況下不可行。

這種新的探測方法並非僅限於光，也可應用於紅外線或微波輻射等。

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